仪器名称:透射电子显微镜
型号：JEOL JEM-2100Plus

生产厂商：日本电子株式会社

主要技术指标：

透射电镜主机主要技术指标：
电子枪：LaB₆（六硼化镧）
点分辨率：0.23nm
线分辨率：0.14nm
加速电压：200kV
束斑尺寸：TEM模式：≥20nmEDS/NBD/CBD模式：≤1.0nm
放大倍数：2000~1,500,000
倾斜角：±35°

能谱仪技术指标：
能谱仪能量分辨率（MnK）：优于136eV
分析元素：⁵B~⁹²U

主要功能：

透射像（明场、暗场和高分辨像）观察，选区电子衍射结构分析和纳米区域的成份分析。

应用：

主要应用于固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析。